Suomalainen  |
ICT-Q518D
I.C.T
In-Circuit Test ICT Equipment
| Määrä: | |
|---|---|
Varustettu EC-suihkutestitekniikalla
CMOS + toistokytkinkortin suunnittelu
Todellinen laajakaistatestitekniikka
Humanisoitu win7-käyttöliittymä, yksinkertainen käyttö ja helppokäyttöinen
Tehokas taulunäkymä
Viiden johdin testaustekniikka, jopa neljä päätekomponenttia voidaan testata
ATPD automaattinen testiohjelman virheenkorjaus
Paranna tilastoanalyysiraportteja ja seuraa tehokkaasti tuotannon laatua
| Malli | ICT-Q518D |
| Piirilevykoko | 500 mm x 380 mm (STANDARDI) |
| Testipisteet | 256 pistettä Vakio (1024 pistettä on valinnainen) |
| Vaihda korttia | 128 / potti |
| Eristetyt pisteet | 10/kärry |
| Testin nopeus | 0,5 s/1024 pistettä (avoin/lyhyt) 2ms ~ 40ms/vaihe (komponentti) |
| Testialue | Resistanssi 0,1 Ω ~ 40 M Ω Tarkkuus on 0,05 Ω ~ 100 M Ω (2-johtiminen) ± 1% - 5% (nelijohtiminen) 0,05 Ω. Kapasitanssi 1pf ~ 40MF tarkkuus ± 2%-5%. Induktanssi 1uh ~ 50h, tarkkuus 2% - 5%. Diodit 0,1 ~ 6V tarkkuus ± 1% -3%. Stabiloitu jännitediodi 0,1 ~ 15 V tarkkuus ± 1% -3%. VCE-kyllästysjännitteen mittaus transistorin β arvon kolmessa navassa. Kolmen terminaalin testi kenttätehotransistorin VDS, CD, RD (päällä). Optinen liitin ja rele, jossa on neljä liitintä johtavuusjännitteen tai -resistanssin testaamiseksi. |
| Virtalähde | AC: 100-240,50/60HZ, 3Kw |
| Ulottuvuus (mm) | 830*830*1600 |
| Paino | Noin: 170kg |
* Tiedot on saatu ympäristön lämpötilassa 25 ℃ ja kosteudessa 60 %
* ICT jatkaa laatua ja suorituskykyä, teknisiä tietoja ja ulkonäköä voidaan päivittää ilman erityistä ilmoitusta.
